Wireless Test System - Beágyazott vezeték nélküli technológiák vizsgálata

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
tanársegéd
Szoba: IE413
Tel.:
+36 1 463-2673
Email: krebesz (*) mit * bme * hu

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Aktív (aktuális, lehet rá jelentkezni)
Kiírás éve: 
2017
A kiírás jellege: 
önálló labor, szakdolgozat/diplomaterv

Az Internet of Things (IoT) olyan eszközök internet által történő összekapcsolódásából létrejövő hálózatot, vagy az internet segítségével történő
összekapcsolódást jelent, amelyek számos, jellemzően beágyazott és vezeték nélküli adatátvitelen keresztül biztosítanak adatáramlást gép-gép vagy gép-
ember között. A vezeték nélküli technológiák számossága jelentősen megnőtt az utóbbi években és ezek a technológiák egyetlen eszközbe integrálása
manapság teljesen szokványos. Elég csak az okostelefonokra gondolnunk, amelyekben olyan technológiák találhatóak meg mint az LTE, 802.11.x WLAN
szabványok, Bluetooth, stb. Ez maga után vonja azt az igényt, hogy egy ilyen eszköz kötelező tesztelése, végbemérése vagy adott specifikációval szembeni megfelelősségi vizsgálata során rengeteg nagy pontosságú validáló mérést kelljen elvégezni lehetőleg minél rövidebb idő alatt minél költséghatékonyabban. Az önálló munka során egy olyan tecnológia elsajátítására nyílik lehetőség, amely a fenti követelményeknek megfelel és ipari alkalmazása egyre elterjedtebbé válik. A Wireless Test System (WTS) egy olyan PXI alapú
vezetéknélküli beágyazott tecnológiákat vizsgálni és tesztelni képes eszköz, amely integráltan tartalmaz egy komplett, FPGA alapú adó-vevő egységet,
amely pontos, rendkívül nagy sebességű párhuzamos vizsgálatot tesz lehetővé. A projekt munka során a hallgató többek között megismerkedik a WTS rendszer HW és SW komponenseivel és azok alkalmazásával konkrét, beágyazott vezeték nélküli adatátviteli technológiákat alkalmazó egységek (DUT) automatizált párhuzamosított tesztelésének kidolgozásával.

© 2010-2018 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató