Szenzorok/mérőrendszerek frekvenciafüggő hibájának kompenzálása inverzszűrési módszerekkel

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
tanszékvezető, habilitált docens
Szoba: IE442
Tel.:
+36 1 463-2065
Email: daboczi (*) mit * bme * hu

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Aktív (aktuális, lehet rá jelentkezni)
Kiírás éve: 
2014
A kiírás jellege: 
szorgalmi feladat, önálló labor, szakdolgozat/diplomaterv

Szenzorok, mérőrendszerek pontosságát a véges sávszélességük korlátozza. A jelek digitális utófeldolgozásával lehetőség van a torzítás részleges kompenzálására. Sajnos a kompenzálás során a mérési zajokat  felerősítjük, ami adott esetben használhatatlan rekonstrukciót eredményez. A kompenzálást ezért úgy kell elvégezni, hogy egyidejűleg a zajt is csillapítjuk, ami viszont a hasznos jel torzulásához vezet. A megoldást olyan algoritmusok jelentik, melyek kompromisszumot nyújtanak a zajelnyomás és a torzítás között. Néhány alkalmazási példa: Hubble teleszkóp lencsehibáinak kompenzálása, életlen vagy bemozdult kameraképek rekonstrukciója, mérőműszer (pl. digitális oszcilloszkóp) sávszélességének kiterjesztése a technológiai határon túlra, szenzor jelek sávszélességének kiterjesztése, vagy szenzor fúzióval való növelése.

A hallgató feladata az inverz szűrési módszerek megismerése és alkalmazásra szabása, esetleg beágyazott processzoron való implementálása.

Szükséges ismeretek:

- digitális jelfeldolgozás

- angol nyelv

© 2010-2018 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató