Model Based Test Generation

MOGENTES - Model-based Generation of Tests for Dependable Embedded Systems
Típus: 
EU kutatási keretprogram
Kezdés éve: 
2008
Befejezés éve: 
2010
Partnerek: 
Austrian Research Centers GmbH, Budapest University of Technology and Economics, Ford Forschungszentrum Aachen GmbH, Swiss Federal Institute of Technology Zurich, Graz University of Technology, Prolan Irányítástechnikai ZRT, Prover Technology AB, SP Technical Research Institute of Sweden, Thales Rail Signalling Solutions GmbH, ReLab S.R.L.

Tanszéki projektvezető

A munkatárs fényképe
deputy head of department, habilitated associate professor
Szoba: IB421
Tel.:
+36 1 463-3598
Email: majzik (*) mit * bme * hu

Tanszéki résztvevők

A munkatárs fényképe
deputy head of department, habilitated associate professor
Szoba: IB421
Tel.:
+36 1 463-3598
Email: majzik (*) mit * bme * hu
A munkatárs fényképe
tudományos munkatárs
Szoba: IB421

Contact information

Koordinátor: 
Austrian Research Centers
Felelős: 
István Majzik

Bemutatás

The MOGENTES - Model Driven Development of Tests for Embedded Systems project aims at significantly enhancing testing and verification of dependable embedded systems by means of automated generation of test-cases. It will address both testing of non-functional issues like reliability (by system stress and overload tests), and functional safety.

© 2010-2019 BME MIT