IQ fázis és amplitudó hiba mérése alapsávi digitális jelfeldolgozással (Silicon Labs )

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
docens
Szoba: IE333
Tel.:
+36 1 463-4372
Email: khazy (*) mit * bme * hu
Külső konzulens: 
Katona József

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Aktív (aktuális, lehet rá jelentkezni)
Kiírás éve: 
2019
A kiírás jellege: 
önálló labor, szakdolgozat/diplomaterv

A feladat egy pontos fázis, illetve amplitudó mérés létrehozása a Silicon Laboratries EFR32 SoC család által szolgáltatott vevőoldali IQ minták között. A mérés alapul szolgálhat egy kalibrációs eljáráshoz, melyben egy modulálatlan tesztjel által generált IQ mintákból számolt fázis- és amplitudóhiba közvetlenül alkalmazható a korrekciós áramkörökben. Az eljárás előnye a gyorsasága lehet a klasszikus iteratív kalibrációs algoritmusokkal szemben. A feladat a módszer implementálása, majd annak határainak feltérképezése (milyen hosszú megfigyelésre van szükség az adott pontosság eléréséhez, hogyan változik a pontosság a tesztjel jel-zaj viszonyának függvényében).

© 2010-2019 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató