HIL (Hardware-In-the-Loop) tesztkörnyezet létrehozása beágyazott vezérlők teszteléséhez (evopro Innovation)

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
docens
Szoba: IE333
Tel.:
+36 1 463-4372
Email: khazy (*) mit * bme * hu
Külső konzulens: 
később kerül kiválasztásra

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Aktív (aktuális, lehet rá jelentkezni)
Kiírás éve: 
2016
A kiírás jellege: 
szakdolgozat/diplomaterv

Az evopro Innovation Kft. Embedded Systems ágazata több egyedi, multifunkciós beágyazott vezérlőt fejleszt, például AC töltőoszlop vezérlő, DC töltőoszlop vezérlő, stb. Mint minden megbízhatóság vagy biztonságkritikus beágyazott rendszer esetén, ezeknél a fejlesztéseknél is elengedhetetlen az adott vezérlő szisztematikus tesztelése. 

A tesztekkel szemben egyre gyakoribb elvárás, hogy ne csak statikus szituációkban, hanem dinamikus, a valóságot szimuláló körülmények között is lehessen ellenőrzéseket végezni. Az ilyen úgynevezett Hardware-in-the-Loop tesztek lényege, hogy a vizsgált rendszer környezetét analóg és digitális jelekkel valamint különféle kommunikációs protokoll(ok)on küldött üzenetekkel helyettesítik. A vezérlő környezetének pontos lemásolását a tesztrendszer által futtatott viselkedési modell biztosítja.

Részletes feladatkiírás:

  1. Ismertesse a beágyazott vezérlők általános tesztelési eljárásait.
  2. Vizsgálja meg a Hardware-in-the-Loop tesztek szerepét, valamint, hogy miben más ez az eljárás, a hagyományos teszteléshez képest.
  3. Mutassa be röviden, hogy jelenleg milyen HIL teszt fejlesztői környezetek érhetőek el.
  4. Ismertesse a National Instruments megoldásait HIL tesztekhez.
  5. Mutassa be a tesztelni kívánt beágyazott vezérlőt.
  6. Készítsen egy olyan National Instruments technológiákat felhasználó HIL tesztkörnyezetet, amely alkalmas a kiválasztott vezérlő vizsgálatára:
    1. Egy vagy több use-case tesztelése
    2. A tesztelés automatizálása
  7. Értékelje az elkészült rendszert, vizsgálja meg az esetleges továbbfejlesztési lehetőségeket

Kapcsolódó készségek és ismeretek:

  • Programozás, NI LabVIEW környezetben
  • Beágyazott rendszerekkel kapcsolatos alapismeretek
© 2010-2018 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató