A/D tesztelő mérőrendszer fejlesztése LabVIEW-ban

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
adjunktus
Szoba: IE 415
Tel.:
+36 1 463-3585
Email: palfi (*) mit * bme * hu

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Aktív (aktuális, lehet rá jelentkezni)
Kiírás éve: 
2016
A kiírás jellege: 
önálló labor
 
Az A/D-konvertek felhasználás előtti ellenőrzése, tesztelése, az adatlapon való egyértelmű specifikálása mind nehéz feladat. Sok a bizonytalanság, az eltérő értelmezés. Ezért született meg az IEEE 1241-2010 dokumentum. Ez definiálja az egységes terminológiát és eljárásokat. A legfontosabb eljárás alapja a szinuszillesztés: egy aránylag jól definiált algoritmus (legkisebb négyzetek módszere, LS) segítségével meghatározzuk az ADC kimeneti mintáira legjobban illeszkedő szinuszjelet, majd a mintáknak és a szinuszjelnek a különbsége megadja a konverter hibáját, mely tovább analizálható. Az LS módszer általában nagyon jó eredményeket ad. A hiba azonban különösen kis bitszám esetén nagyobb a vártnál: a szinusz csúcsa közelében sok olyan pont van, melyek hibája összefügg. Emiatt az illesztett szinusz amplitúdója kicsit hibás lesz. A feladat elméletileg, pláne zárt alakban nemigen oldható meg, de ésszerű és egyszerű algoritmusmódosításokkal biztosan javítható. A feladat javítási ötletek (például a gyanús minták elhagyása) ellenőrzése szimulációs vizsgálatokkal, újabb ötletek kigondolása és ellenőrzése. A legnagyobb kihívás az, hogy a javítást, ha ennek eredménye meggyőző, szívesen átvenné az IEEE megfelelő munkabizottsága. Feltételezik ugyanis, hogy a mi felkészültségünk jobb a körültekintő vizsgálathoz. ami igaz is. Ha sikerül ügyesen körüljárni a feladatot, akkor hasznos, sőt publikálható eredménnyel zárul az önálló labor. A fejlesztés LabVIEW-ban történik, az elkészült program tesztelésére tudunk hardvert biztosítani. Az eddig tanultakon kívül nincs szükség előismeretekre, azok a félév során elsajátíthatóak.
© 2010-2024 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató