JTAG tesztrendszer megismerése

Tanszéki konzulens: 
A munkatárs fényképe
óraadó
Szoba: IE336

A kiírás adatai

A téma státusza: 
Korábbi (jelenleg nem aktív, de látszik)
Kiírás éve: 
2013
A kiírás jellege: 
szorgalmi feladat, önálló labor

A mai JTAG technológia mellett lehetőség van, hogy egy kártyát szinte teljes egészében teszteljünk -a végszerelés után-. A cél különböző fejlesztői kártyák vizsgálata JTAG Technologies cég termékeivel.

© 2010-2019 BME MIT | Hibajelentés | Használati útmutató